M-UHV 系统是完美的实验平台,用于各种超高真空分析技术的集成,包括:

  • X 射线光电子能谱 (XPS)
  • 俄歇电子能谱 (AES)
  • 能量损失谱 (ELS)
  • 紫外线光电子能谱法 (UPS) 的
  • 扫描电子显微镜 (SEM)
  • 扫描俄歇显微镜 (SAM)
  • 程序升温脱附 (TPD)/程序升温反应谱 (TPRS)/热脱附谱 (TDS)
  • 反射高能电子衍射 (RHEED)
  • 离子散射谱 (ISS)
  • 二次离子质谱仪 (SIMS)
  • 扫描隧道显微镜 (STM)
  • 高分辨率电子能量损失谱(HREELS)
  • 以及更多……